Elektroniikan komponenttien herkkyys staattiselle sähkölle, testaus

Helge Palmen

Elektroniikan komponenttien herkkyys staattiselle sähkölle, testaus

Helge Palmen

VTT Technical Research Centre of Finland

Research output: Book/Report › Report

Abstract

Elektroniikan komponenttien koon pienentyessä ja toiminnan tullessa nopeammaksi, kasvaa niiden herkkyys staattisen sähkön purkauksille. Raportissa esitetään staattisen sähkön syntymekanismit ja niiden vaikutus komponenttien sähköiseen toimintaan. Komponenttien suojamekanismit ja niiden toimivuus erilaisilla purkautumiskytkemmöillä käydään läpi. Elektroniikkalaitteilla tapahtuvat staattisen sähkön purkautumistiet ja tähän vaikuttavat mekanismit esitetään laitesuunnittelun kannalta. ESD-kestoisuus- ja testikonfiguraatiot testipalvelujen tarjoajineen HBM, CDM ja MM-malleilla käydään läpi.

Original language	Finnish
Place of Publication	Tampere
Publisher	VTT Technical Research Centre of Finland
Number of pages	33
Publication status	Published - 2001
MoE publication type	D4 Published development or research report or study

Publication series

Series	VTT Automaatio. Tutkimusraportti
Number	TURB 023

Cite this

@book{e292255f0aa747448f605ac06d68e166,

title = "Elektroniikan komponenttien herkkyys staattiselle s{\"a}hk{\"o}lle, testaus",

abstract = "Elektroniikan komponenttien koon pienentyess{\"a} ja toiminnan tullessa nopeammaksi, kasvaa niiden herkkyys staattisen s{\"a}hk{\"o}n purkauksille. Raportissa esitet{\"a}{\"a}n staattisen s{\"a}hk{\"o}n syntymekanismit ja niiden vaikutus komponenttien s{\"a}hk{\"o}iseen toimintaan. Komponenttien suojamekanismit ja niiden toimivuus erilaisilla purkautumiskytkemm{\"o}ill{\"a} k{\"a}yd{\"a}{\"a}n l{\"a}pi. Elektroniikkalaitteilla tapahtuvat staattisen s{\"a}hk{\"o}n purkautumistiet ja t{\"a}h{\"a}n vaikuttavat mekanismit esitet{\"a}{\"a}n laitesuunnittelun kannalta. ESD-kestoisuus- ja testikonfiguraatiot testipalvelujen tarjoajineen HBM, CDM ja MM-malleilla k{\"a}yd{\"a}{\"a}n l{\"a}pi.",

author = "Helge Palmen",

note = "Project code: A0SU00461 ",

year = "2001",

language = "Finnish",

series = "VTT Automaatio. Tutkimusraportti",

publisher = "VTT Technical Research Centre of Finland",

number = "TURB 023",

address = "Finland",

}

TY - BOOK

T1 - Elektroniikan komponenttien herkkyys staattiselle sähkölle, testaus

AU - Palmen, Helge

N1 - Project code: A0SU00461

PY - 2001

Y1 - 2001

N2 - Elektroniikan komponenttien koon pienentyessä ja toiminnan tullessa nopeammaksi, kasvaa niiden herkkyys staattisen sähkön purkauksille. Raportissa esitetään staattisen sähkön syntymekanismit ja niiden vaikutus komponenttien sähköiseen toimintaan. Komponenttien suojamekanismit ja niiden toimivuus erilaisilla purkautumiskytkemmöillä käydään läpi. Elektroniikkalaitteilla tapahtuvat staattisen sähkön purkautumistiet ja tähän vaikuttavat mekanismit esitetään laitesuunnittelun kannalta. ESD-kestoisuus- ja testikonfiguraatiot testipalvelujen tarjoajineen HBM, CDM ja MM-malleilla käydään läpi.

AB - Elektroniikan komponenttien koon pienentyessä ja toiminnan tullessa nopeammaksi, kasvaa niiden herkkyys staattisen sähkön purkauksille. Raportissa esitetään staattisen sähkön syntymekanismit ja niiden vaikutus komponenttien sähköiseen toimintaan. Komponenttien suojamekanismit ja niiden toimivuus erilaisilla purkautumiskytkemmöillä käydään läpi. Elektroniikkalaitteilla tapahtuvat staattisen sähkön purkautumistiet ja tähän vaikuttavat mekanismit esitetään laitesuunnittelun kannalta. ESD-kestoisuus- ja testikonfiguraatiot testipalvelujen tarjoajineen HBM, CDM ja MM-malleilla käydään läpi.

M3 - Report

T3 - VTT Automaatio. Tutkimusraportti

BT - Elektroniikan komponenttien herkkyys staattiselle sähkölle, testaus

PB - VTT Technical Research Centre of Finland

CY - Tampere

ER -