ESD-riskit automaattisessa elektroniikkatuotannossa: Diplomityö

Heta Kojo

ESD-riskit automaattisessa elektroniikkatuotannossa: Diplomityö

Translated title of the contribution: ESD-risks in automated electronics manufacturing: Master's thesis

Heta Kojo

Research output: Thesis › Master's thesis › Theses

Abstract

Työssä on kartoitettu tyypillisen elektroniikkatuotannossa käytettävän tuotantolinjan mahdolliset ESD-riskikohteet. Tämän tarkastelun pohjalta esitetään riskikohteiden paikantamiseen sopivia mittausmenetelmiä ja niistä saatuja esimerkkituloksia. Mittauksissa on muun muassa tutkittu piirilevyn ja komponenttien varautumista kokoonpanoprosessin aikana sähköstaattisen potentiaalin mittausta käyttäen. Toinen tärkeä mittaustyyppi on maadoitusresistanssien mittaus. Elektroniikkatuotannon todettiin sisältävän nykyisellään merkittäviä ESD-riskejä. Niitä ei juurikaan ole tunnettu, eikä laitevalmistajien panostus niiden poistamiseen ole ollut riittävää. Ongelmia syntyy maadoitusten puutteista sekä linjoilla käytettävien laitteiden ja tuotteiden materiaaleista. Tuotteiden varaus voi nousta linjalla tasolle, joka mahdollistaa vikaantumiseen johtavat ESD-purkaukset. Alueella tullaankin tarvitsemaan jatkotutkimusta erityisesti piirilevy-, kuljetinhihna- ja komponenttipakkausmateriaalien vaikutuksista. Mittauskäytäntöjä on syytä kehittää sellaiseen suuntaan, että uusille tuotantolaitteille voidaan suorittaa puolueettomat ESD-luokitusmittaukset ja teollisuuteen saadaan käyttökelpoinen auditointiohje.

Original language	Finnish
Qualification	Master Degree
Awarding Institution	Tampere University of Technology (TUT)
Place of Publication	Tampere
Publisher	Tampere University of Technology
Publication status	Published - 2002
MoE publication type	G2 Master's thesis, polytechnic Master's thesis

Fingerprint

Keywords

ESD
electronics manufacturing
automated handling equipment

Cite this

Kojo, H. (2002). ESD-riskit automaattisessa elektroniikkatuotannossa: Diplomityö. Tampere: Tampere University of Technology.

@phdthesis{85d73f3b7d1649ffb8da3247223bba2b,

title = "ESD-riskit automaattisessa elektroniikkatuotannossa: Diplomity{\"o}",

abstract = "Ty{\"o}ss{\"a} on kartoitettu tyypillisen elektroniikkatuotannossa k{\"a}ytett{\"a}v{\"a}n tuotantolinjan mahdolliset ESD-riskikohteet. T{\"a}m{\"a}n tarkastelun pohjalta esitet{\"a}{\"a}n riskikohteiden paikantamiseen sopivia mittausmenetelmi{\"a} ja niist{\"a} saatuja esimerkkituloksia. Mittauksissa on muun muassa tutkittu piirilevyn ja komponenttien varautumista kokoonpanoprosessin aikana s{\"a}hk{\"o}staattisen potentiaalin mittausta k{\"a}ytt{\"a}en. Toinen t{\"a}rke{\"a} mittaustyyppi on maadoitusresistanssien mittaus. Elektroniikkatuotannon todettiin sis{\"a}lt{\"a}v{\"a}n nykyisell{\"a}{\"a}n merkitt{\"a}vi{\"a} ESD-riskej{\"a}. Niit{\"a} ei juurikaan ole tunnettu, eik{\"a} laitevalmistajien panostus niiden poistamiseen ole ollut riitt{\"a}v{\"a}{\"a}. Ongelmia syntyy maadoitusten puutteista sek{\"a} linjoilla k{\"a}ytett{\"a}vien laitteiden ja tuotteiden materiaaleista. Tuotteiden varaus voi nousta linjalla tasolle, joka mahdollistaa vikaantumiseen johtavat ESD-purkaukset. Alueella tullaankin tarvitsemaan jatkotutkimusta erityisesti piirilevy-, kuljetinhihna- ja komponenttipakkausmateriaalien vaikutuksista. Mittausk{\"a}yt{\"a}nt{\"o}j{\"a} on syyt{\"a} kehitt{\"a}{\"a} sellaiseen suuntaan, ett{\"a} uusille tuotantolaitteille voidaan suorittaa puolueettomat ESD-luokitusmittaukset ja teollisuuteen saadaan k{\"a}ytt{\"o}kelpoinen auditointiohje.",

keywords = "ESD, electronics manufacturing, automated handling equipment",

author = "Heta Kojo",

note = "CA: TUO diplomity{\"o} Tampereen teknillinen korkeakoulu, s{\"a}hk{\"o}tekniikan osasto Project code: G1SU00545 80 s. + liitt. 3 s.",

year = "2002",

language = "Finnish",

publisher = "Tampere University of Technology",

address = "Finland",

school = "Tampere University of Technology (TUT)",

}

TY - THES

T1 - ESD-riskit automaattisessa elektroniikkatuotannossa

T2 - Diplomityö

AU - Kojo, Heta

N1 - CA: TUO diplomityö Tampereen teknillinen korkeakoulu, sähkötekniikan osasto Project code: G1SU00545 80 s. + liitt. 3 s.

PY - 2002

Y1 - 2002

N2 - Työssä on kartoitettu tyypillisen elektroniikkatuotannossa käytettävän tuotantolinjan mahdolliset ESD-riskikohteet. Tämän tarkastelun pohjalta esitetään riskikohteiden paikantamiseen sopivia mittausmenetelmiä ja niistä saatuja esimerkkituloksia. Mittauksissa on muun muassa tutkittu piirilevyn ja komponenttien varautumista kokoonpanoprosessin aikana sähköstaattisen potentiaalin mittausta käyttäen. Toinen tärkeä mittaustyyppi on maadoitusresistanssien mittaus. Elektroniikkatuotannon todettiin sisältävän nykyisellään merkittäviä ESD-riskejä. Niitä ei juurikaan ole tunnettu, eikä laitevalmistajien panostus niiden poistamiseen ole ollut riittävää. Ongelmia syntyy maadoitusten puutteista sekä linjoilla käytettävien laitteiden ja tuotteiden materiaaleista. Tuotteiden varaus voi nousta linjalla tasolle, joka mahdollistaa vikaantumiseen johtavat ESD-purkaukset. Alueella tullaankin tarvitsemaan jatkotutkimusta erityisesti piirilevy-, kuljetinhihna- ja komponenttipakkausmateriaalien vaikutuksista. Mittauskäytäntöjä on syytä kehittää sellaiseen suuntaan, että uusille tuotantolaitteille voidaan suorittaa puolueettomat ESD-luokitusmittaukset ja teollisuuteen saadaan käyttökelpoinen auditointiohje.

AB - Työssä on kartoitettu tyypillisen elektroniikkatuotannossa käytettävän tuotantolinjan mahdolliset ESD-riskikohteet. Tämän tarkastelun pohjalta esitetään riskikohteiden paikantamiseen sopivia mittausmenetelmiä ja niistä saatuja esimerkkituloksia. Mittauksissa on muun muassa tutkittu piirilevyn ja komponenttien varautumista kokoonpanoprosessin aikana sähköstaattisen potentiaalin mittausta käyttäen. Toinen tärkeä mittaustyyppi on maadoitusresistanssien mittaus. Elektroniikkatuotannon todettiin sisältävän nykyisellään merkittäviä ESD-riskejä. Niitä ei juurikaan ole tunnettu, eikä laitevalmistajien panostus niiden poistamiseen ole ollut riittävää. Ongelmia syntyy maadoitusten puutteista sekä linjoilla käytettävien laitteiden ja tuotteiden materiaaleista. Tuotteiden varaus voi nousta linjalla tasolle, joka mahdollistaa vikaantumiseen johtavat ESD-purkaukset. Alueella tullaankin tarvitsemaan jatkotutkimusta erityisesti piirilevy-, kuljetinhihna- ja komponenttipakkausmateriaalien vaikutuksista. Mittauskäytäntöjä on syytä kehittää sellaiseen suuntaan, että uusille tuotantolaitteille voidaan suorittaa puolueettomat ESD-luokitusmittaukset ja teollisuuteen saadaan käyttökelpoinen auditointiohje.

KW - ESD

KW - electronics manufacturing

KW - automated handling equipment

M3 - Master's thesis

PB - Tampere University of Technology

CY - Tampere

ER -