Katsaus kemian metrologiaan

Veikko Komppa

Research output: Contribution to journalArticleProfessional

Abstract

Kemian metrologia, kemiallisten mittausten mittaustiede, on noussut viime aikoina voimakkaan kansainvälisen mielenkiinnon kohteeksi. Kemian metrologian korkeimmalla tasolla koko kemian SI-järjestelmän hoitamisesta ja eteenpäin viemisestä vastaa BIPM:n (Bureau International des Poids et Mesures) alainen ainemäärän konsultatiivinen komitea CCQM (Consultative Committee for Amount of Substance - Metrology in Chemistry). Alueellinen Euroopan järjestelmästä vastaava yhteistyöelin on EUROMET:n kemian metrologian ryhmä eli MetChem.
Original languageFinnish
Pages (from-to)8-9
JournalTiimalasi
Issue number1
Publication statusPublished - 2003
MoE publication typeD1 Article in a trade journal

Cite this

Komppa, V. (2003). Katsaus kemian metrologiaan. Tiimalasi, (1), 8-9.