Katsaus kemian metrologiaan

Veikko Komppa

Research output: Contribution to journalArticleProfessional

Abstract

Kemian metrologia, kemiallisten mittausten mittaustiede, on noussut viime aikoina voimakkaan kansainvälisen mielenkiinnon kohteeksi. Kemian metrologian korkeimmalla tasolla koko kemian SI-järjestelmän hoitamisesta ja eteenpäin viemisestä vastaa BIPM:n (Bureau International des Poids et Mesures) alainen ainemäärän konsultatiivinen komitea CCQM (Consultative Committee for Amount of Substance - Metrology in Chemistry). Alueellinen Euroopan järjestelmästä vastaava yhteistyöelin on EUROMET:n kemian metrologian ryhmä eli MetChem.
Original languageFinnish
Pages (from-to)8-9
JournalTiimalasi
Issue number1
Publication statusPublished - 2003
MoE publication typeD1 Article in a trade journal

Cite this

Komppa, V. (2003). Katsaus kemian metrologiaan. Tiimalasi, (1), 8-9.
Komppa, Veikko. / Katsaus kemian metrologiaan. In: Tiimalasi. 2003 ; No. 1. pp. 8-9.
@article{901dde65d05040e7b5515ea43db092f5,
title = "Katsaus kemian metrologiaan",
abstract = "Kemian metrologia, kemiallisten mittausten mittaustiede, on noussut viime aikoina voimakkaan kansainv{\"a}lisen mielenkiinnon kohteeksi. Kemian metrologian korkeimmalla tasolla koko kemian SI-j{\"a}rjestelm{\"a}n hoitamisesta ja eteenp{\"a}in viemisest{\"a} vastaa BIPM:n (Bureau International des Poids et Mesures) alainen ainem{\"a}{\"a}r{\"a}n konsultatiivinen komitea CCQM (Consultative Committee for Amount of Substance - Metrology in Chemistry). Alueellinen Euroopan j{\"a}rjestelm{\"a}st{\"a} vastaava yhteisty{\"o}elin on EUROMET:n kemian metrologian ryhm{\"a} eli MetChem.",
author = "Veikko Komppa",
year = "2003",
language = "Finnish",
pages = "8--9",
journal = "Tiimalasi",
issn = "1456-0054",
number = "1",

}

Komppa, V 2003, 'Katsaus kemian metrologiaan', Tiimalasi, no. 1, pp. 8-9.

Katsaus kemian metrologiaan. / Komppa, Veikko.

In: Tiimalasi, No. 1, 2003, p. 8-9.

Research output: Contribution to journalArticleProfessional

TY - JOUR

T1 - Katsaus kemian metrologiaan

AU - Komppa, Veikko

PY - 2003

Y1 - 2003

N2 - Kemian metrologia, kemiallisten mittausten mittaustiede, on noussut viime aikoina voimakkaan kansainvälisen mielenkiinnon kohteeksi. Kemian metrologian korkeimmalla tasolla koko kemian SI-järjestelmän hoitamisesta ja eteenpäin viemisestä vastaa BIPM:n (Bureau International des Poids et Mesures) alainen ainemäärän konsultatiivinen komitea CCQM (Consultative Committee for Amount of Substance - Metrology in Chemistry). Alueellinen Euroopan järjestelmästä vastaava yhteistyöelin on EUROMET:n kemian metrologian ryhmä eli MetChem.

AB - Kemian metrologia, kemiallisten mittausten mittaustiede, on noussut viime aikoina voimakkaan kansainvälisen mielenkiinnon kohteeksi. Kemian metrologian korkeimmalla tasolla koko kemian SI-järjestelmän hoitamisesta ja eteenpäin viemisestä vastaa BIPM:n (Bureau International des Poids et Mesures) alainen ainemäärän konsultatiivinen komitea CCQM (Consultative Committee for Amount of Substance - Metrology in Chemistry). Alueellinen Euroopan järjestelmästä vastaava yhteistyöelin on EUROMET:n kemian metrologian ryhmä eli MetChem.

M3 - Article

SP - 8

EP - 9

JO - Tiimalasi

JF - Tiimalasi

SN - 1456-0054

IS - 1

ER -

Komppa V. Katsaus kemian metrologiaan. Tiimalasi. 2003;(1):8-9.