Abstract
Kriittisen polun hallinta (CRIPMAN, Critical Path Management) uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon. Cripman -menetelmällä tunnistetaan ne tarkasteltavan kohteen osat koko tuotteen arvoverkostossa, jotka ovat uuden teknologian hallitun käyttöönoton kannalta kriittisiä. Menetelmä on geneerinen, joten se soveltuu moniin erilaisiin kohteisiin.
| Original language | Finnish |
|---|---|
| Title of host publication | Elektroniikan valmistus 2004 |
| Publisher | Tampere University of Technology |
| Number of pages | 7 |
| ISBN (Print) | 952-15-1168-0 |
| Publication status | Published - 2004 |
| MoE publication type | A4 Article in a conference publication |
| Event | Elektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004 - Pori, Finland Duration: 13 May 2004 → 14 May 2004 |
Publication series
| Series | Tampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikkö. Julkaisusarja A |
|---|---|
| Number | 5 |
| Volume | 2004 |
| ISSN | 1459-1286 |
Conference
| Conference | Elektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004 |
|---|---|
| Country | Finland |
| City | Pori |
| Period | 13/05/04 → 14/05/04 |
Cite this
Maijala, P., Paasi, J., & Tamminen, P. (2004). Kriittisen polun hallinta työkaluna uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon elektroniikkatuotannossa. In Elektroniikan valmistus 2004 Tampere University of Technology. Tampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikkö. Julkaisusarja A, No. 5, Vol.. 2004 http://virtual.vtt.fi/virtual/staha/stahayhdistys/esa%20tr/eltupak_2004_maijala.pdf