Kriittisen polun hallinta työkaluna uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon elektroniikkatuotannossa

Pekka Maijala, Jaakko Paasi, Pasi Tamminen

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference article in proceedings › Scientific › peer-review

    Abstract

    Kriittisen polun hallinta (CRIPMAN, Critical Path Management) uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon. Cripman -menetelmällä tunnistetaan ne tarkasteltavan kohteen osat koko tuotteen arvoverkostossa, jotka ovat uuden teknologian hallitun käyttöönoton kannalta kriittisiä. Menetelmä on geneerinen, joten se soveltuu moniin erilaisiin kohteisiin.
    Original languageFinnish
    Title of host publicationElektroniikan valmistus 2004
    PublisherTampere University of Technology
    Number of pages7
    ISBN (Print)952-15-1168-0
    Publication statusPublished - 2004
    MoE publication typeA4 Article in a conference publication
    EventElektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004 - Pori, Finland
    Duration: 13 May 2004 → 14 May 2004

    Publication series

    SeriesTampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikkö. Julkaisusarja A
    Number5
    Volume2004
    ISSN1459-1286

    Conference

    ConferenceElektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004
    CountryFinland
    CityPori
    Period13/05/04 → 14/05/04

    Access to Document

    Cite this

    Maijala, P., Paasi, J., & Tamminen, P. (2004). Kriittisen polun hallinta työkaluna uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon elektroniikkatuotannossa. In Elektroniikan valmistus 2004 Tampere University of Technology. Tampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikkö. Julkaisusarja A, No. 5, Vol.. 2004 http://virtual.vtt.fi/virtual/staha/stahayhdistys/esa%20tr/eltupak_2004_maijala.pdf