Kriittisen polun hallinta työkaluna uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon elektroniikkatuotannossa

Pekka Maijala; Jaakko Paasi; Pasi Tamminen

Kriittisen polun hallinta työkaluna uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon elektroniikkatuotannossa

Pekka Maijala, Jaakko Paasi, Pasi Tamminen

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference article in proceedings › Scientific › peer-review

Abstract

Kriittisen polun hallinta (CRIPMAN, Critical Path Management) uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon. Cripman -menetelmällä tunnistetaan ne tarkasteltavan kohteen osat koko tuotteen arvoverkostossa, jotka ovat uuden teknologian hallitun käyttöönoton kannalta kriittisiä. Menetelmä on geneerinen, joten se soveltuu moniin erilaisiin kohteisiin.

Original language	Finnish
Title of host publication	Elektroniikan valmistus 2004
Publisher	Tampere University of Technology
Number of pages	7
ISBN (Print)	952-15-1168-0
Publication status	Published - 2004
MoE publication type	A4 Article in a conference publication
Event	Elektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004 - Pori, Finland Duration: 13 May 2004 → 14 May 2004

Publication series

Series	Tampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikkö. Julkaisusarja A
Number	5
Volume	2004
ISSN	1459-1286

Conference

Conference	Elektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004
Country/Territory	Finland
City	Pori
Period	13/05/04 → 14/05/04

Access to Document

http://virtual.vtt.fi/virtual/staha/stahayhdistys/esa%20tr/eltupak_2004_maijala.pdf

Cite this

@inproceedings{7910fc928353492d9154f37d7ab5b284,

title = "Kriittisen polun hallinta ty{\"o}kaluna uuden teknologian hallittuun k{\"a}ytt{\"o}{\"o}nottoon elektroniikkatuotannossa",

abstract = "Kriittisen polun hallinta (CRIPMAN, Critical Path Management) uuden teknologian hallittuun k{\"a}ytt{\"o}{\"o}nottoon. Cripman -menetelm{\"a}ll{\"a} tunnistetaan ne tarkasteltavan kohteen osat koko tuotteen arvoverkostossa, jotka ovat uuden teknologian hallitun k{\"a}ytt{\"o}{\"o}noton kannalta kriittisi{\"a}. Menetelm{\"a} on geneerinen, joten se soveltuu moniin erilaisiin kohteisiin.",

author = "Pekka Maijala and Jaakko Paasi and Pasi Tamminen",

note = "Project code: G4SU00558; Elektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004 ; Conference date: 13-05-2004 Through 14-05-2004",

year = "2004",

language = "Finnish",

isbn = "952-15-1168-0",

series = "Tampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikk{\"o}. Julkaisusarja A",

publisher = "Tampere University of Technology",

number = "5",

booktitle = "Elektroniikan valmistus 2004",

address = "Finland",

}

Maijala, P, Paasi, J & Tamminen, P 2004, Kriittisen polun hallinta työkaluna uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon elektroniikkatuotannossa. in Elektroniikan valmistus 2004. Tampere University of Technology, Tampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikkö. Julkaisusarja A, no. 5, vol. 2004, Elektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004, Pori, Finland, 13/05/04. <http://virtual.vtt.fi/virtual/staha/stahayhdistys/esa%20tr/eltupak_2004_maijala.pdf>

Kriittisen polun hallinta työkaluna uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon elektroniikkatuotannossa. / Maijala, Pekka; Paasi, Jaakko; Tamminen, Pasi.
Elektroniikan valmistus 2004. Tampere University of Technology, 2004. (Tampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikkö. Julkaisusarja A; No. 5, Vol. 2004).

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference article in proceedings › Scientific › peer-review

TY - GEN

T1 - Kriittisen polun hallinta työkaluna uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon elektroniikkatuotannossa

AU - Maijala, Pekka

AU - Paasi, Jaakko

AU - Tamminen, Pasi

N1 - Project code: G4SU00558

PY - 2004

Y1 - 2004

N2 - Kriittisen polun hallinta (CRIPMAN, Critical Path Management) uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon. Cripman -menetelmällä tunnistetaan ne tarkasteltavan kohteen osat koko tuotteen arvoverkostossa, jotka ovat uuden teknologian hallitun käyttöönoton kannalta kriittisiä. Menetelmä on geneerinen, joten se soveltuu moniin erilaisiin kohteisiin.

AB - Kriittisen polun hallinta (CRIPMAN, Critical Path Management) uuden teknologian hallittuun käyttöönottoon. Cripman -menetelmällä tunnistetaan ne tarkasteltavan kohteen osat koko tuotteen arvoverkostossa, jotka ovat uuden teknologian hallitun käyttöönoton kannalta kriittisiä. Menetelmä on geneerinen, joten se soveltuu moniin erilaisiin kohteisiin.

M3 - Conference article in proceedings

SN - 952-15-1168-0

T3 - Tampereen teknillinen yliopisto: Porin yksikkö. Julkaisusarja A

BT - Elektroniikan valmistus 2004

PB - Tampere University of Technology

T2 - Elektroniikan tuotanto- ja pakkaustekniikan konferenssi, ELTUPAK 2004

Y2 - 13 May 2004 through 14 May 2004

ER -