Abstract
| Original language | Finnish |
|---|---|
| Place of Publication | Espoo |
| Publisher | VTT Technical Research Centre of Finland |
| Number of pages | 110 |
| ISBN (Print) | 951-38-1387-8 |
| Publication status | Published - 1982 |
| MoE publication type | D4 Published development or research report or study |
Publication series
| Name | Tutkimuksia / Valtion teknillinen tutkimuskeskus |
|---|---|
| Publisher | VTT |
| Volume | 64 |
Cite this
}
Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen. / Ikäläinen, Pertti.
Espoo : VTT Technical Research Centre of Finland, 1982. 110 p. (Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports; No. 64).Research output: Book/Report › Report › Professional
TY - BOOK
T1 - Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen
AU - Ikäläinen, Pertti
PY - 1982
Y1 - 1982
N2 - Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.
AB - Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.
M3 - Report
SN - 951-38-1387-8
T3 - Tutkimuksia / Valtion teknillinen tutkimuskeskus
BT - Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen
PB - VTT Technical Research Centre of Finland
CY - Espoo
ER -