Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen

Pertti Ikäläinen

Research output: Book/ReportReport

Abstract

Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.
Original languageFinnish
Place of PublicationEspoo
PublisherVTT Technical Research Centre of Finland
Number of pages110
ISBN (Print)951-38-1387-8
Publication statusPublished - 1982
MoE publication typeD4 Published development or research report or study

Publication series

SeriesValtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports
Number64
ISSN0358-5077

Cite this

Ikäläinen, P. (1982). Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen. Espoo: VTT Technical Research Centre of Finland. Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports, No. 64
Ikäläinen, Pertti. / Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen. Espoo : VTT Technical Research Centre of Finland, 1982. 110 p. (Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports; No. 64).
@book{4f50e1b632d8442dbb9a8bdae8d1aee0,
title = "Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen",
abstract = "Julkaisussa k{\"a}sitell{\"a}{\"a}n ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitet{\"a}{\"a}n, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus l{\"a}hdeadmittanssista voidaan kuvata nelj{\"a}ll{\"a} kohinaparametrilla. My{\"o}s ulkoisten, h{\"a}vi{\"o}tt{\"o}mien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitet{\"a}{\"a}n kohinaparametrien mittausj{\"a}rjestelmi{\"a}, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla l{\"a}hdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimm{\"a}n neli{\"o}summan keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausj{\"a}rjestelm{\"a} esitell{\"a}{\"a}n. Mittausj{\"a}rjestelm{\"a}ll{\"a} mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niit{\"a} verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten k{\"a}ytt{\"a}mist{\"a} transistorin valinnassa tarkastellaan.",
author = "Pertti Ik{\"a}l{\"a}inen",
year = "1982",
language = "Finnish",
isbn = "951-38-1387-8",
series = "Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports",
publisher = "VTT Technical Research Centre of Finland",
number = "64",
address = "Finland",

}

Ikäläinen, P 1982, Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen. Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports, no. 64, VTT Technical Research Centre of Finland, Espoo.

Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen. / Ikäläinen, Pertti.

Espoo : VTT Technical Research Centre of Finland, 1982. 110 p. (Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports; No. 64).

Research output: Book/ReportReport

TY - BOOK

T1 - Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen

AU - Ikäläinen, Pertti

PY - 1982

Y1 - 1982

N2 - Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.

AB - Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.

M3 - Report

SN - 951-38-1387-8

T3 - Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports

BT - Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen

PB - VTT Technical Research Centre of Finland

CY - Espoo

ER -

Ikäläinen P. Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen. Espoo: VTT Technical Research Centre of Finland, 1982. 110 p. (Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports; No. 64).