Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen

Pertti Ikäläinen

Research output: Book/ReportReport

Abstract

Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.
Original languageFinnish
Place of PublicationEspoo
PublisherVTT Technical Research Centre of Finland
Number of pages110
ISBN (Print)951-38-1387-8
Publication statusPublished - 1982
MoE publication typeD4 Published development or research report or study

Publication series

SeriesValtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports
Number64
ISSN0358-5077

Cite this

Ikäläinen, P. (1982). Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen. VTT Technical Research Centre of Finland. Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports, No. 64