Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen

Pertti Ikäläinen

Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen

Pertti Ikäläinen

VTT Technical Research Centre of Finland

Research output: Book/Report › Report

Abstract

Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.

Original language	Finnish
Place of Publication	Espoo
Publisher	VTT Technical Research Centre of Finland
Number of pages	110
ISBN (Print)	951-38-1387-8
Publication status	Published - 1982
MoE publication type	D4 Published development or research report or study

Publication series

Series	Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports
Number	64
ISSN	0358-5077

Cite this

Ikäläinen, P. (1982). Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen. VTT Technical Research Centre of Finland. Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports, No. 64

@book{4f50e1b632d8442dbb9a8bdae8d1aee0,

title = "Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen",

abstract = "Julkaisussa k{\"a}sitell{\"a}{\"a}n ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitet{\"a}{\"a}n, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus l{\"a}hdeadmittanssista voidaan kuvata nelj{\"a}ll{\"a} kohinaparametrilla. My{\"o}s ulkoisten, h{\"a}vi{\"o}tt{\"o}mien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitet{\"a}{\"a}n kohinaparametrien mittausj{\"a}rjestelmi{\"a}, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla l{\"a}hdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimm{\"a}n neli{\"o}summan keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausj{\"a}rjestelm{\"a} esitell{\"a}{\"a}n. Mittausj{\"a}rjestelm{\"a}ll{\"a} mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niit{\"a} verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten k{\"a}ytt{\"a}mist{\"a} transistorin valinnassa tarkastellaan.",

author = "Pertti Ik{\"a}l{\"a}inen",

year = "1982",

language = "Finnish",

isbn = "951-38-1387-8",

series = "Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports",

publisher = "VTT Technical Research Centre of Finland",

number = "64",

address = "Finland",

}

TY - BOOK

T1 - Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen

AU - Ikäläinen, Pertti

PY - 1982

Y1 - 1982

N2 - Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.

AB - Julkaisussa käsitellään ne teoreettiset perusteet, joita tarvitaan kohisevien lineaaristen kaksiporttien tarkastelussa, ja esitetään, kuinka kaksiportin kohinakertoimen riippuvuus lähdeadmittanssista voidaan kuvata neljällä kohinaparametrilla. Myös ulkoisten, häviöttömien piirielementtien vaikutusta kohinaparametreihin tarkastellaan. Julkaisussa esitetään kohinaparametrien mittausjärjestelmiä, jotka perustuvat kohinakerrointen mittaukseen tunnetuilla lähdeadmittanssien arvoilla. Kohinaparametrit sovitetaan mittaustuloksiin pienimmän neliösumman keinolla tai derivaattoihin perustuvalla iteratiivisella laskentakeinolla. Muihin mahdollisiin menetelmiin luodaan lyhyt katsaus. Rakennettu mittausjärjestelmä esitellään. Mittausjärjestelmällä mitattiin kahdeksan GaAs MESFET -tyyppisen transistorin kohinaparametrit taajuusalueella 6,5 - 7,1 GHz. Mittaustulokset annetaan, ja niitä verrataan datalehtien antamiin tietoihin. Mittaustarkkuutta tarkastellaan ja mittaustulosten käyttämistä transistorin valinnassa tarkastellaan.

M3 - Report

SN - 951-38-1387-8

T3 - Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tutkimuksia - Research Reports

BT - Mikroaaltotransistorin kohinaparametrien mittaaminen

PB - VTT Technical Research Centre of Finland

CY - Espoo

ER -