Monitorointi ja diagnostiikka

Translated title of the contribution: Monitoring and diagnostics

Risto Parikka, Tiina Ahlroos, Jari Halme, Juha Miettinen, Pekka Salmenperä, Sulo Lahdelma, Markku Kananen, Petteri Kantola

Research output: Book/ReportReport

Abstract

Antureihin perustuvan diagnostiikan hyödyntäminen teollisuudessa on viime vuosiin saakka ollut vähäistä. Kuitenkin erilaisista antureista saatavaa informaatiota voitaisiin käyttää laajemmin hyväksi tuotteiden ja tuotantoprosessin laitteiden kunnon valvonnassa ja huoltotarpeiden määrittelyssä. Tulevaisuuden tuotteissa Life Cycle Cost -ajattelu on tunnusomaista ja toimiva tuote on suunniteltava tällaiseen liiketoimintamalliin sopivaksi. Tällöin uudet tekniikat, kuten väyläratkaisut ja mikromekaaniset MEMS-anturit, mahdollistavat anturien määrän monin-kertaistamisen. Yhä enenevästi käytetään samoja antureita sekä prosessin ohjauksessa että diagnostiikassa, ja yhdistelemällä useilta antureilta kerättyä tietoa saadaan nykyistä runsaampaa ja luotettavampaa tietoa diagnostiikan perustaksi. Tähän julkaisuun on koottu SMART-hankkeessa Monitorointi ja diagnostiikka tehtyjen tutkimusten keskeisiä tuloksia. Tarkoituksena on esitellä tulevaisuudessa yleistyviä kunnon valvonnan ja diagnostiikan menetelmiä sekä hahmottaa case-kohteiden tutkimustulosten kautta kokonaiskuvaa siitä, millaisia tulevaisuuden tuotteen diagnostiikkaan liittyvät suunnitteluvaatimukset ovat. Järjestelmän toimintaa voidaan kehittää edelleen yksittäisten komponenttien seurannasta ja diagnostiikasta kohti laajempaa, koko järjestelmän kattavaa hallintaa ja diagnostiikkaa.
Original languageFinnish
Place of PublicationEspoo
PublisherVTT Technical Research Centre of Finland
Number of pages59
ISBN (Electronic)951-38-5829-4
ISBN (Print)951-38-5828-6
Publication statusPublished - 2001
MoE publication typeNot Eligible

Publication series

SeriesVTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes
Number2098
ISSN1235-0605

Fingerprint

life cycle costing
monitoring

Keywords

  • condition monitoring
  • diagnostics
  • diagnostic methods
  • future
  • trends
  • acoustic emission
  • sensors
  • MEMS
  • automation
  • components
  • microchemical applications
  • reliability

Cite this

Parikka, R., Ahlroos, T., Halme, J., Miettinen, J., Salmenperä, P., Lahdelma, S., ... Kantola, P. (2001). Monitorointi ja diagnostiikka. Espoo: VTT Technical Research Centre of Finland. VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes, No. 2098
Parikka, Risto ; Ahlroos, Tiina ; Halme, Jari ; Miettinen, Juha ; Salmenperä, Pekka ; Lahdelma, Sulo ; Kananen, Markku ; Kantola, Petteri. / Monitorointi ja diagnostiikka. Espoo : VTT Technical Research Centre of Finland, 2001. 59 p. (VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes; No. 2098).
@book{552176c83fa34229badd2c955d8df544,
title = "Monitorointi ja diagnostiikka",
abstract = "Antureihin perustuvan diagnostiikan hy{\"o}dynt{\"a}minen teollisuudessa on viime vuosiin saakka ollut v{\"a}h{\"a}ist{\"a}. Kuitenkin erilaisista antureista saatavaa informaatiota voitaisiin k{\"a}ytt{\"a}{\"a} laajemmin hyv{\"a}ksi tuotteiden ja tuotantoprosessin laitteiden kunnon valvonnassa ja huoltotarpeiden m{\"a}{\"a}rittelyss{\"a}. Tulevaisuuden tuotteissa Life Cycle Cost -ajattelu on tunnusomaista ja toimiva tuote on suunniteltava t{\"a}llaiseen liiketoimintamalliin sopivaksi. T{\"a}ll{\"o}in uudet tekniikat, kuten v{\"a}yl{\"a}ratkaisut ja mikromekaaniset MEMS-anturit, mahdollistavat anturien m{\"a}{\"a}r{\"a}n monin-kertaistamisen. Yh{\"a} enenev{\"a}sti k{\"a}ytet{\"a}{\"a}n samoja antureita sek{\"a} prosessin ohjauksessa ett{\"a} diagnostiikassa, ja yhdistelem{\"a}ll{\"a} useilta antureilta ker{\"a}tty{\"a} tietoa saadaan nykyist{\"a} runsaampaa ja luotettavampaa tietoa diagnostiikan perustaksi. T{\"a}h{\"a}n julkaisuun on koottu SMART-hankkeessa Monitorointi ja diagnostiikka tehtyjen tutkimusten keskeisi{\"a} tuloksia. Tarkoituksena on esitell{\"a} tulevaisuudessa yleistyvi{\"a} kunnon valvonnan ja diagnostiikan menetelmi{\"a} sek{\"a} hahmottaa case-kohteiden tutkimustulosten kautta kokonaiskuvaa siit{\"a}, millaisia tulevaisuuden tuotteen diagnostiikkaan liittyv{\"a}t suunnitteluvaatimukset ovat. J{\"a}rjestelm{\"a}n toimintaa voidaan kehitt{\"a}{\"a} edelleen yksitt{\"a}isten komponenttien seurannasta ja diagnostiikasta kohti laajempaa, koko j{\"a}rjestelm{\"a}n kattavaa hallintaa ja diagnostiikkaa.",
keywords = "condition monitoring, diagnostics, diagnostic methods, future, trends, acoustic emission, sensors, MEMS, automation, components, microchemical applications, reliability",
author = "Risto Parikka and Tiina Ahlroos and Jari Halme and Juha Miettinen and Pekka Salmenper{\"a} and Sulo Lahdelma and Markku Kananen and Petteri Kantola",
year = "2001",
language = "Finnish",
isbn = "951-38-5828-6",
series = "VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes",
publisher = "VTT Technical Research Centre of Finland",
number = "2098",
address = "Finland",

}

Parikka, R, Ahlroos, T, Halme, J, Miettinen, J, Salmenperä, P, Lahdelma, S, Kananen, M & Kantola, P 2001, Monitorointi ja diagnostiikka. VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes, no. 2098, VTT Technical Research Centre of Finland, Espoo.

Monitorointi ja diagnostiikka. / Parikka, Risto; Ahlroos, Tiina; Halme, Jari; Miettinen, Juha; Salmenperä, Pekka; Lahdelma, Sulo; Kananen, Markku; Kantola, Petteri.

Espoo : VTT Technical Research Centre of Finland, 2001. 59 p. (VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes; No. 2098).

Research output: Book/ReportReport

TY - BOOK

T1 - Monitorointi ja diagnostiikka

AU - Parikka, Risto

AU - Ahlroos, Tiina

AU - Halme, Jari

AU - Miettinen, Juha

AU - Salmenperä, Pekka

AU - Lahdelma, Sulo

AU - Kananen, Markku

AU - Kantola, Petteri

PY - 2001

Y1 - 2001

N2 - Antureihin perustuvan diagnostiikan hyödyntäminen teollisuudessa on viime vuosiin saakka ollut vähäistä. Kuitenkin erilaisista antureista saatavaa informaatiota voitaisiin käyttää laajemmin hyväksi tuotteiden ja tuotantoprosessin laitteiden kunnon valvonnassa ja huoltotarpeiden määrittelyssä. Tulevaisuuden tuotteissa Life Cycle Cost -ajattelu on tunnusomaista ja toimiva tuote on suunniteltava tällaiseen liiketoimintamalliin sopivaksi. Tällöin uudet tekniikat, kuten väyläratkaisut ja mikromekaaniset MEMS-anturit, mahdollistavat anturien määrän monin-kertaistamisen. Yhä enenevästi käytetään samoja antureita sekä prosessin ohjauksessa että diagnostiikassa, ja yhdistelemällä useilta antureilta kerättyä tietoa saadaan nykyistä runsaampaa ja luotettavampaa tietoa diagnostiikan perustaksi. Tähän julkaisuun on koottu SMART-hankkeessa Monitorointi ja diagnostiikka tehtyjen tutkimusten keskeisiä tuloksia. Tarkoituksena on esitellä tulevaisuudessa yleistyviä kunnon valvonnan ja diagnostiikan menetelmiä sekä hahmottaa case-kohteiden tutkimustulosten kautta kokonaiskuvaa siitä, millaisia tulevaisuuden tuotteen diagnostiikkaan liittyvät suunnitteluvaatimukset ovat. Järjestelmän toimintaa voidaan kehittää edelleen yksittäisten komponenttien seurannasta ja diagnostiikasta kohti laajempaa, koko järjestelmän kattavaa hallintaa ja diagnostiikkaa.

AB - Antureihin perustuvan diagnostiikan hyödyntäminen teollisuudessa on viime vuosiin saakka ollut vähäistä. Kuitenkin erilaisista antureista saatavaa informaatiota voitaisiin käyttää laajemmin hyväksi tuotteiden ja tuotantoprosessin laitteiden kunnon valvonnassa ja huoltotarpeiden määrittelyssä. Tulevaisuuden tuotteissa Life Cycle Cost -ajattelu on tunnusomaista ja toimiva tuote on suunniteltava tällaiseen liiketoimintamalliin sopivaksi. Tällöin uudet tekniikat, kuten väyläratkaisut ja mikromekaaniset MEMS-anturit, mahdollistavat anturien määrän monin-kertaistamisen. Yhä enenevästi käytetään samoja antureita sekä prosessin ohjauksessa että diagnostiikassa, ja yhdistelemällä useilta antureilta kerättyä tietoa saadaan nykyistä runsaampaa ja luotettavampaa tietoa diagnostiikan perustaksi. Tähän julkaisuun on koottu SMART-hankkeessa Monitorointi ja diagnostiikka tehtyjen tutkimusten keskeisiä tuloksia. Tarkoituksena on esitellä tulevaisuudessa yleistyviä kunnon valvonnan ja diagnostiikan menetelmiä sekä hahmottaa case-kohteiden tutkimustulosten kautta kokonaiskuvaa siitä, millaisia tulevaisuuden tuotteen diagnostiikkaan liittyvät suunnitteluvaatimukset ovat. Järjestelmän toimintaa voidaan kehittää edelleen yksittäisten komponenttien seurannasta ja diagnostiikasta kohti laajempaa, koko järjestelmän kattavaa hallintaa ja diagnostiikkaa.

KW - condition monitoring

KW - diagnostics

KW - diagnostic methods

KW - future

KW - trends

KW - acoustic emission

KW - sensors

KW - MEMS

KW - automation

KW - components

KW - microchemical applications

KW - reliability

M3 - Report

SN - 951-38-5828-6

T3 - VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes

BT - Monitorointi ja diagnostiikka

PB - VTT Technical Research Centre of Finland

CY - Espoo

ER -

Parikka R, Ahlroos T, Halme J, Miettinen J, Salmenperä P, Lahdelma S et al. Monitorointi ja diagnostiikka. Espoo: VTT Technical Research Centre of Finland, 2001. 59 p. (VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes; No. 2098).