Piirisimulointiohjelmistojen käyttömahdollisuudet elektronisten analogiapiirien vika- ja vaikutusanalyysissä

Translated title of the contribution: Circuit simulation programs as the tools of failure mode and effect analysis of analog electronic circuits

Marita Lehtelä, Timo Malm, Risto Tiusanen

    Research output: Book/ReportReport

    Abstract

    Tutkimuksen tarkoituksena oli selvittää mahdollisuuksia suorittaa elektronisten analogiapiirien vika- ja vaikutusanalyysi tietokoneavusteisesti. Tähän liittyen selvitettiin yleisimpien elektroniikan komponenttien vikaantumistapoja. Tutkittiin kolmen mikrotietokoneissa toimivan piirisimulointiohjelman ominaisuuksia ja arvioitiin niiden soveltuvuutta toimia työkaluina vika- ja vaikutusanalyysissä. Tutkimuksessa esitetään eräs toteuttamismalli tietokoneavusteiselle vika- ja vaikutusanalyysille. Ohjelmia testattiin käytännössä muutamaa esimerkkipiiriä käyttäen. Ohjelmat soveltuvat laajojen komponenttivalikoimiensa ja simulointimahdollisuuksiensa puolesta vika- ja vaikutusanalyysissä käytettäviksi, jos viat mallinnetaan kunkin ohjelman syöttötiedostoon manuaalisesti. Automaattisen vika- ja vaikutusanalyysin toteuttaminen tutkituilla piirisimulaattoreilla vaatii lisäohjelmien luomista ohjelmien ympäristöön.
    Translated title of the contributionCircuit simulation programs as the tools of failure mode and effect analysis of analog electronic circuits
    Original languageFinnish
    Place of PublicationEspoo
    PublisherVTT Technical Research Centre of Finland
    Number of pages58
    ISBN (Print)951-38-3693-2
    Publication statusPublished - 1990
    MoE publication typeNot Eligible

    Publication series

    SeriesValtion teknillinen tutkimuskeskus. Tiedotteita
    Number1123
    ISSN0358-5085

    Keywords

    • analog systems
    • electronic devices
    • circuit analysis computing
    • circuit CAD
    • fault mode and effect analysis
    • occupational safety

    Fingerprint

    Dive into the research topics of 'Circuit simulation programs as the tools of failure mode and effect analysis of analog electronic circuits'. Together they form a unique fingerprint.

    Cite this