@book{cba9f2e1bb2d4179ab9a1789c5af4844,
title = "Staattiset murtumissitkeysparametrit",
abstract = "Kirjallisuusselvityksess{\"a} luodaan yleiskuva k{\"a}ytett{\"a}vist{\"a} murtumissitkeysanalyysimenetelmist{\"a} erityisesti paineastiater{\"a}sten s{\"a}teilyvalvontaohjelmien kannalta tarkasteltuna. Tarkastelu soveltuu kuitenkin sellaisenaan kaikkeen murtumissitkeysm{\"a}{\"a}ritykseen. Selvityksen keskeinen osa on pienill{\"a} koesauvoilla mitattujen murtumismekaniikkaan perustuvien materiaaliparametrien merkitys. Yleisimpien murtumissitketysparametrien luonne ja kyky kuvata materiaaleja murtumisen kannalta esitell{\"a}{\"a}n lyhyesti. Parametrej{\"a} vertaillaan kesken{\"a}{\"a}n ja niiden v{\"a}lisi{\"a} korrelaatioita kuvataan. Sauvageometrian vaikutusta koetuloksiin tutkitaan sauvapaksuuden ja s{\"a}r{\"o}npituuden suhteen. Soveltuvimpien parametrien m{\"a}{\"a}ritt{\"a}miseksi tarkastellaan eri parametrien tulosten luotettavuutta. S{\"a}teilyvalvontaohjelmissa k{\"a}ytett{\"a}vien koesauvojen tehokkuusvertailun tulosten perusteella py{\"o}re{\"a}{\"a} RCT-koesauvaa voidaan pit{\"a}{\"a} s{\"a}teilyvalvontaohjelmien kannalta parhaana vaihtoehtona. Erilaisista murtumissitkeysarvojen kokeellisista m{\"a}{\"a}ritysmenetelmist{\"a} esitet{\"a}{\"a}n yhteenveto. Pienill{\"a} koesauvoilla mitattujen tulosten on yleisesti osoitettu sijoittuvan suurilla koesauvoilla mitattujen arvojen yl{\"a}puolelle sitkeystransition l{\"a}mp{\"o}tila-alueella ja alapuolelle sitkeyden yl{\"a}tasannealueella. N{\"a}iden erojen syit{\"a} ja vaikutuksia s{\"a}teilyvalvontaohjelmiin tarkastellaan. Pienill{\"a} koesauvoilla m{\"a}{\"a}ritettj{\"a} JIC-arvoja voidaan s{\"a}teilyvalvontaohjelmissa soveltaa kolmella eri tavalla: s{\"a}teilysiirtymien m{\"a}{\"a}ritt{\"a}miseen, lineaaristen rakenneanalyysien edellytt{\"a}mien KIC-arvojen arvioimiseen tai sellaisenaaan J-integraaliin perustuvien rakenneanalyysimenetelmien yhteydess{\"a}.",
keywords = "mechanical properties, fractures, hardness, strain measurement",
author = "Kim Wallin",
year = "1984",
language = "Finnish",
isbn = "951-38-2102-1",
series = "Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tiedotteita",
publisher = "VTT Technical Research Centre of Finland",
number = "353",
address = "Finland",
}