Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen

Tässä esiselvityksessä tarkastellaan pinta-analyysimenetelmien soveltuvuutta geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. Katsauksessa käsitellään lyhyesti 20 erilaista menetelmää. Ne on jaettu kolmeen ryhmään: 1. puolikvantitatiiviset analyysimenetelmät, 2. rakenneanalyysimenetelmät ja 3. pinnankuvausmenetelmät. Kussakin ryhmässä on useita periaatteiltaan poikkeavia menetelmiä, jotka soveltuvat geologisten näytteiden tutkimiseen. Usein niitä käytetään yhdessä siten, että analysoitava kohta valitaan jollakin pinnankuvausmenetelmällä kuten SEM ja analysoidaan esimerkiksi elektronien, röntgenkvanttien tai ionien takaisinsirontaan perustuvalla, puolikvantitatiivisella menetelmällä kuten AES, XPS tai SIMS. Reaktioihin aktiivisimmin osallistuvien alueiden reaktiomekaniikkaa tai likandikemiaa voidaan tarkastella lähemmin rakenneanalyysimenetelmien avulla, joita ovat mm. EXAFS ja XANES. Kaikkiaan pinta-analyysimenetelmät täydentävät merkittävästi geologisten materiaalien pintareaktioiden ja niiden fysikaalisten vaikutusten tutkimiseen käytettäviä kemiallisia ja fysikaalisia menetelmiä. Erityisesti pintamekanismien ymmärtäminen ja kiven tai mineraalien pinnan aktiivisten alueiden kvantitatiivinen analysoiminen edellyttävät pinta-analyysimenetelmien käyttöä.