Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen

Translated title of the contribution: Suitability of surface analytical methods for investigation of retardation and sticking properties of geological samples

Veijo Pirhonen

Research output: Book/Report › Report

Abstract

Tässä esiselvityksessä tarkastellaan pinta-analyysimenetelmien soveltuvuutta geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. Katsauksessa käsitellään lyhyesti 20 erilaista menetelmää. Ne on jaettu kolmeen ryhmään: 1. puolikvantitatiiviset analyysimenetelmät, 2. rakenneanalyysimenetelmät ja 3. pinnankuvausmenetelmät. Kussakin ryhmässä on useita periaatteiltaan poikkeavia menetelmiä, jotka soveltuvat geologisten näytteiden tutkimiseen. Usein niitä käytetään yhdessä siten, että analysoitava kohta valitaan jollakin pinnankuvausmenetelmällä kuten SEM ja analysoidaan esimerkiksi elektronien, röntgenkvanttien tai ionien takaisinsirontaan perustuvalla, puolikvantitatiivisella menetelmällä kuten AES, XPS tai SIMS. Reaktioihin aktiivisimmin osallistuvien alueiden reaktiomekaniikkaa tai likandikemiaa voidaan tarkastella lähemmin rakenneanalyysimenetelmien avulla, joita ovat mm. EXAFS ja XANES. Kaikkiaan pinta-analyysimenetelmät täydentävät merkittävästi geologisten materiaalien pintareaktioiden ja niiden fysikaalisten vaikutusten tutkimiseen käytettäviä kemiallisia ja fysikaalisia menetelmiä. Erityisesti pintamekanismien ymmärtäminen ja kiven tai mineraalien pinnan aktiivisten alueiden kvantitatiivinen analysoiminen edellyttävät pinta-analyysimenetelmien käyttöä.
Original languageFinnish
Place of PublicationEspoo
PublisherVTT Technical Research Centre of Finland
Number of pages35
ISBN (Print)951-38-4198-7
Publication statusPublished - 1992
MoE publication typeNot Eligible

Publication series

SeriesVTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes
Number1385
ISSN1235-0605

Fingerprint

Pinta

Keywords

  • geologic investigations
  • subsurface investigations
  • engineering geology
  • surface properties
  • analyzing
  • methods
  • waste disposal
  • radioactive wastes
  • rocks
  • rock mechanics
  • X rays
  • retarding
  • mechanical properties
  • adhesion
  • structural analysis
  • image processing
  • minerals
  • electron scattering

Cite this

Pirhonen, V. (1992). Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. Espoo: VTT Technical Research Centre of Finland. VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes, No. 1385
Pirhonen, Veijo. / Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. Espoo : VTT Technical Research Centre of Finland, 1992. 35 p. (VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes; No. 1385).
@book{ece33739dd2f4680a634b2cd76369654,
title = "Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten n{\"a}ytteiden pid{\"a}tys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen",
abstract = "T{\"a}ss{\"a} esiselvityksess{\"a} tarkastellaan pinta-analyysimenetelmien soveltuvuutta geologisten n{\"a}ytteiden pid{\"a}tys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. Katsauksessa k{\"a}sitell{\"a}{\"a}n lyhyesti 20 erilaista menetelm{\"a}{\"a}. Ne on jaettu kolmeen ryhm{\"a}{\"a}n: 1. puolikvantitatiiviset analyysimenetelm{\"a}t, 2. rakenneanalyysimenetelm{\"a}t ja 3. pinnankuvausmenetelm{\"a}t. Kussakin ryhm{\"a}ss{\"a} on useita periaatteiltaan poikkeavia menetelmi{\"a}, jotka soveltuvat geologisten n{\"a}ytteiden tutkimiseen. Usein niit{\"a} k{\"a}ytet{\"a}{\"a}n yhdess{\"a} siten, ett{\"a} analysoitava kohta valitaan jollakin pinnankuvausmenetelm{\"a}ll{\"a} kuten SEM ja analysoidaan esimerkiksi elektronien, r{\"o}ntgenkvanttien tai ionien takaisinsirontaan perustuvalla, puolikvantitatiivisella menetelm{\"a}ll{\"a} kuten AES, XPS tai SIMS. Reaktioihin aktiivisimmin osallistuvien alueiden reaktiomekaniikkaa tai likandikemiaa voidaan tarkastella l{\"a}hemmin rakenneanalyysimenetelmien avulla, joita ovat mm. EXAFS ja XANES. Kaikkiaan pinta-analyysimenetelm{\"a}t t{\"a}ydent{\"a}v{\"a}t merkitt{\"a}v{\"a}sti geologisten materiaalien pintareaktioiden ja niiden fysikaalisten vaikutusten tutkimiseen k{\"a}ytett{\"a}vi{\"a} kemiallisia ja fysikaalisia menetelmi{\"a}. Erityisesti pintamekanismien ymm{\"a}rt{\"a}minen ja kiven tai mineraalien pinnan aktiivisten alueiden kvantitatiivinen analysoiminen edellytt{\"a}v{\"a}t pinta-analyysimenetelmien k{\"a}ytt{\"o}{\"a}.",
keywords = "geologic investigations, subsurface investigations, engineering geology, surface properties, analyzing, methods, waste disposal, radioactive wastes, rocks, rock mechanics, X rays, retarding, mechanical properties, adhesion, structural analysis, image processing, minerals, electron scattering",
author = "Veijo Pirhonen",
year = "1992",
language = "Finnish",
isbn = "951-38-4198-7",
series = "VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes",
publisher = "VTT Technical Research Centre of Finland",
number = "1385",
address = "Finland",

}

Pirhonen, V 1992, Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes, no. 1385, VTT Technical Research Centre of Finland, Espoo.

Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. / Pirhonen, Veijo.

Espoo : VTT Technical Research Centre of Finland, 1992. 35 p. (VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes; No. 1385).

Research output: Book/Report › Report

TY - BOOK

T1 - Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen

AU - Pirhonen, Veijo

PY - 1992

Y1 - 1992

N2 - Tässä esiselvityksessä tarkastellaan pinta-analyysimenetelmien soveltuvuutta geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. Katsauksessa käsitellään lyhyesti 20 erilaista menetelmää. Ne on jaettu kolmeen ryhmään: 1. puolikvantitatiiviset analyysimenetelmät, 2. rakenneanalyysimenetelmät ja 3. pinnankuvausmenetelmät. Kussakin ryhmässä on useita periaatteiltaan poikkeavia menetelmiä, jotka soveltuvat geologisten näytteiden tutkimiseen. Usein niitä käytetään yhdessä siten, että analysoitava kohta valitaan jollakin pinnankuvausmenetelmällä kuten SEM ja analysoidaan esimerkiksi elektronien, röntgenkvanttien tai ionien takaisinsirontaan perustuvalla, puolikvantitatiivisella menetelmällä kuten AES, XPS tai SIMS. Reaktioihin aktiivisimmin osallistuvien alueiden reaktiomekaniikkaa tai likandikemiaa voidaan tarkastella lähemmin rakenneanalyysimenetelmien avulla, joita ovat mm. EXAFS ja XANES. Kaikkiaan pinta-analyysimenetelmät täydentävät merkittävästi geologisten materiaalien pintareaktioiden ja niiden fysikaalisten vaikutusten tutkimiseen käytettäviä kemiallisia ja fysikaalisia menetelmiä. Erityisesti pintamekanismien ymmärtäminen ja kiven tai mineraalien pinnan aktiivisten alueiden kvantitatiivinen analysoiminen edellyttävät pinta-analyysimenetelmien käyttöä.

AB - Tässä esiselvityksessä tarkastellaan pinta-analyysimenetelmien soveltuvuutta geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. Katsauksessa käsitellään lyhyesti 20 erilaista menetelmää. Ne on jaettu kolmeen ryhmään: 1. puolikvantitatiiviset analyysimenetelmät, 2. rakenneanalyysimenetelmät ja 3. pinnankuvausmenetelmät. Kussakin ryhmässä on useita periaatteiltaan poikkeavia menetelmiä, jotka soveltuvat geologisten näytteiden tutkimiseen. Usein niitä käytetään yhdessä siten, että analysoitava kohta valitaan jollakin pinnankuvausmenetelmällä kuten SEM ja analysoidaan esimerkiksi elektronien, röntgenkvanttien tai ionien takaisinsirontaan perustuvalla, puolikvantitatiivisella menetelmällä kuten AES, XPS tai SIMS. Reaktioihin aktiivisimmin osallistuvien alueiden reaktiomekaniikkaa tai likandikemiaa voidaan tarkastella lähemmin rakenneanalyysimenetelmien avulla, joita ovat mm. EXAFS ja XANES. Kaikkiaan pinta-analyysimenetelmät täydentävät merkittävästi geologisten materiaalien pintareaktioiden ja niiden fysikaalisten vaikutusten tutkimiseen käytettäviä kemiallisia ja fysikaalisia menetelmiä. Erityisesti pintamekanismien ymmärtäminen ja kiven tai mineraalien pinnan aktiivisten alueiden kvantitatiivinen analysoiminen edellyttävät pinta-analyysimenetelmien käyttöä.

KW - geologic investigations

KW - subsurface investigations

KW - engineering geology

KW - surface properties

KW - analyzing

KW - methods

KW - waste disposal

KW - radioactive wastes

KW - rocks

KW - rock mechanics

KW - X rays

KW - retarding

KW - mechanical properties

KW - adhesion

KW - structural analysis

KW - image processing

KW - minerals

KW - electron scattering

M3 - Report

SN - 951-38-4198-7

T3 - VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes

BT - Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen

PB - VTT Technical Research Centre of Finland

CY - Espoo

ER -

Pirhonen V. Pinta-analyysitekniikan soveltuminen geologisten näytteiden pidätys- ja tartuntaominaisuuksien tutkimiseen. Espoo: VTT Technical Research Centre of Finland, 1992. 35 p. (VTT Tiedotteita - Meddelanden - Research Notes; No. 1385).