TY - BOOK
T1 - Tien päällysteen paksuuden ja poikkiprofiilin mittauslaite
AU - Nummipuro, Juha
AU - Seise, Antti
PY - 1982
Y1 - 1982
N2 - Eri mittausmenetelmien soveltuvuutta tien päällysteen
paksuuden rikkomattomaan mittaukseen tutkittiin. Paras
oli induktiivinen mittaus, jossa vertailutasona on
päällysteen tekovaiheessa kulutuskerroksen alle asetettu
alumiinifolio. Teoreettisten tarkastelujen ja käytännön
kokeiden perusteella voitiin uudessa laitteessa vähentää
sään vaikutusta huomattavasti. Rakennettu laite on
palkkityyppinen paksuusprofilometri, joka mittaa
päällysteen paksuuden, pinnan poikkiprofiilin, tien
pinnan kaltevuuden ja ilmaisee tiehen asetetun folion
sijainnin. Tyypillinen mittaustarkkuus on 1 mm. Uutta
laitteessa on paksuuden jatkuva mittaus sekä mahdollisuus
tulostaa profiili vaakatasoon.
AB - Eri mittausmenetelmien soveltuvuutta tien päällysteen
paksuuden rikkomattomaan mittaukseen tutkittiin. Paras
oli induktiivinen mittaus, jossa vertailutasona on
päällysteen tekovaiheessa kulutuskerroksen alle asetettu
alumiinifolio. Teoreettisten tarkastelujen ja käytännön
kokeiden perusteella voitiin uudessa laitteessa vähentää
sään vaikutusta huomattavasti. Rakennettu laite on
palkkityyppinen paksuusprofilometri, joka mittaa
päällysteen paksuuden, pinnan poikkiprofiilin, tien
pinnan kaltevuuden ja ilmaisee tiehen asetetun folion
sijainnin. Tyypillinen mittaustarkkuus on 1 mm. Uutta
laitteessa on paksuuden jatkuva mittaus sekä mahdollisuus
tulostaa profiili vaakatasoon.
M3 - Report
SN - 951-38-1519-6
T3 - Valtion teknillinen tutkimuskeskus. Tiedotteita
BT - Tien päällysteen paksuuden ja poikkiprofiilin mittauslaite
PB - VTT Technical Research Centre of Finland
CY - Espoo
ER -